【24h】

High Resolution Index of Refraction Profiling of Optical Waveguides

机译:光波导的高分辨率折射率分析

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摘要

A comparison is made between three high spatial resolution index of refraction profiling techniques: reflection-NSOM, microreflection and AFM plus chemical etching using the very small (1.2 x 2 um) elliptical core of a polarization maintaining E-fiber from Andrew Corporation as a test waveguide.
机译:比较了三种高空间分辨率折射率轮廓分析技术:反射NSOM,微反射和AFM加上化学蚀刻,使用了来自Andrew Corporation的偏振保持E纤维的极小(1.2 x 2 um)椭圆形芯作为测试波导。

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