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首页> 外文会议>High-Power Diode Laser Technology and Applications IV >Comparative performance studies of indium and gold-tin packaged diode laser bars
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Comparative performance studies of indium and gold-tin packaged diode laser bars

机译：铟和金锡封装的二极管激光棒的比较性能研究

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This paper is mainly dedicated to a short-time scale reliability study of different packages applied to the same type of laser diode bars: indium and gold-tin packaged laser bars are operated in cw hard-pulse mode with increasing currents until their destruction. The destruction currents serve as guide values for long-time aging tests that should be performed at lower currents. Gold-tin packaged diode lasers turn out to have clearly higher destruction currents in hard-pulse mode. This result is underlined by long-time aging tests at appropriate currents.
机译：本文主要致力于对应用于相同类型的激光二极管棒的不同封装进行短期规模的可靠性研究：铟和金锡封装的激光棒以cw硬脉冲模式工作，电流增加，直到销毁。销毁电流用作应在较低电流下进行的长时间老化测试的指导值。事实证明，金锡封装的二极管激光器在硬脉冲模式下具有明显更高的破坏电流。在适当的电流下进行长时间的老化测试可以强调这一结果。

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