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【24h】

A novel method for measuring the thickness of optical wave plate

机译:一种测量光波片厚度的新方法

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摘要

Based on chromatic polarization interferometry, a novel method for measuring the thickness of optical wave plate is presented. When the resolution power of spectrometer reaches 0.01nm, the measuring precision of the thickness is better than 0.1μm.
机译:基于色偏振干涉法,提出了一种测量光波片厚度的新方法。当光谱仪的分辨率达到0.01nm时,厚度的测量精度优于0.1μm。

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