IDS Ingegneria dei Sistemi SpA, Pisa, Italy;
IDS Ingegneria dei Sistemi SpA, Pisa, Italy;
IDS Ingegneria dei Sistemi SpA, Pisa, Italy;
IDS Ingegneria dei Sistemi SpA, Pisa, Italy;
IDS Ingegneria dei Sistemi SpA, Pisa, Italy;
IDS Ingegneria dei Sistemi SpA, Pisa, Italy;
RCS Measurement; uncertainty; nearfieu radar image;
机译:从近场测量预测远场雷达横截面的基于图像的技术概述
机译:从近场测量预测远场雷达横截面的基于图像的技术概述
机译:从近场测量预测远场雷达横截面的基于图像的技术概述
机译:基于雷达图像的近场对远场RCS测量的不确定性的主要贡献
机译:近场到远场雷达横截面变换,结合了具有MUSIC的超分辨率成像。
机译:基于球面波扩建的任意扫描表面对远场RCS预测的近场
机译:基于快速多极法的近场远场变换平面扫描单体/双场rcs
机译:利用近场测量来表征远场雷达特征