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首页> 外文会议>International Conference on Evolvable Systems: From Biology to Hardware(ICES 2005); 20050912-14; Sitges(ES) >Evolvable Hardware System at Extreme Low Temperatures
【24h】

Evolvable Hardware System at Extreme Low Temperatures

机译：极端低温下的可演化硬件系统

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This paper describes circuit evolutionary experiments at extreme low temperatures, including the test of all system components at this extreme environment (EE). In addition to hardening-by-process and hardening-by-design, "hardening-by-reconfiguration", when applicable, could be used to mitigate drifts, degradation, or damage on electronic devices (chips) in EE, by using re-configurable devices and an adaptive self-reconfiguration of their circuit topology. Conventional circuit design exploits device characteristics within a certain temperature/radiation range; when that is exceeded, the circuit function degrades. On a reconfigurable device, although component parameters change in EE, a new circuit design, suitable for new parameter values, may be mapped into the reconfigurable structure to recover the initial circuit function. This paper demonstrates this technique for circuit evolution and recovery at liquid nitrogen temperatures (-196.6℃). In addition, preliminary tests are performed to assess the survivability of the evolutionary processor at extreme low temperatures.
机译：本文介绍了在极端低温下的电路演化实验，包括在这种极端环境（EE）下对所有系统组件的测试。除了按工艺进行加固和按设计进行加固以外，“通过重新配置进行加固”（如果适用）还可以通过使用重新设计来减轻EE中电子设备（芯片）的漂移，退化或损坏。可配置设备及其电路拓扑的自适应自重配置。传统的电路设计利用了一定温度/辐射范围内的器件特性。当超过该值时，电路功能会降低。在可重配置设备上，尽管EE中的组件参数发生了变化，但是可以将适用于新参数值的新电路设计映射到可重配置结构中，以恢复初始电路功能。本文演示了在液氮温度（-196.6℃）下这种用于电路演化和恢复的技术。此外，还进行了初步测试，以评估进化型处理器在极端低温下的生存能力。

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