Auburn University, Auburn, AL, USA;
Auburn University, Auburn, AL, USA;
Oak Ridge National Laboratory, Oak Ridge, TN, USA;
GE Global Research Center, Niskayuna, NY, USA;
GE Global Research Center, Niskayuna, NY, USA;
High Temperature; AuSn Solder; Thick Film;
机译:γ20焊点下γ射线照射和热循环的微观结构演化与剪切性能
机译:AuSn20 / Ni单搭焊头的组织演变和剪切强度
机译:使用AUSN20焊料对CLCC-3包装组件焊接过程的影响
机译:高温老化对AUSN焊点微结构演化的影响
机译:锡铅和无铅焊点在等温老化下的微观结构变化及其对热疲劳可靠性的影响,包括混合焊点在等温老化下的微观结构变化
机译:微量锌对时效条件下Sn-10Bi / Cu焊点界面演变的影响
机译:使用AUSN20焊料对CLCC-3包装组件焊接过程的影响