• 主题
高级搜索  >
历史搜索 清空历史
首页> 外文会议> >X-ray micro radiography using beam hardening correction
【24h】

X-ray micro radiography using beam hardening correction

机译：使用射束硬化校正的X射线微射线照相

获取原文
页面导航
  • 摘要
  • 著录项
  • 相似文献
  • 相关主题

摘要

The system presented provides high quality micro radiographs including very low contrast and low absorption objects. An important source of image distortion arises from beam hardening effects. When left uncorrected, distortion blurs low contrast image elements. Using a cooled digital X-ray semiconductor detector together with the proposed beam hardening correction procedure brings high dynamic range and very low noise of the acquired radiographs over the entire X-ray source spectrum. Both soft and hard parts of the object appear with high contrast and spatial resolution in the resulting radiographs. The beam hardening correction procedure is fully automated using a set of the calibrators and appropriate software modules.
机译：提出的系统提供了高质量的射线照相，包括非常低的对比度和低吸收的物体。图像畸变的重要来源来自光束硬化效应。如果不进行校正，失真会使低对比度的图像元素模糊。将冷却的数字X射线半导体检测器与建议的射束硬化校正过程一起使用，可以在整个X射线源光谱上带来很高的动态范围，并且所获取的射线照片的噪声非常低。在所得的X射线照片中，物体的软硬部分都具有很高的对比度和空间分辨率。使用一组校准器和适当的软件模块可以完全自动化束硬化校正过程。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱：kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备：11010802029741号 ICP备案号：京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有

  • 客服微信

  • 服务号