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首页> 外文会议>IEEE International Workshop on Metrology for Aerospace >Application of the random coupling model to lossy ports in complex enclosures
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Application of the random coupling model to lossy ports in complex enclosures

机译：随机耦合模型在复杂机壳有损端口中的应用

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The random coupling model (RCM) has been successfully demonstrated to characterize the statistics of the impedance matrix for complex multi-port cavities. However, a challenge remains in finding a practical method to measure the necessary parameters that form the model, especially in the case where ports have localized power loss. In this paper, we present practical methods to measure the radiation impedance of the port and the loss parameter of the cavity. In the case of lossy port in the complex cavity, a generalized antenna model is adopted, and the radiation efficiency of the antenna is used to modify RCM's impedance description.
机译：已经成功地证明了随机耦合模型（RCM）可以表征复杂多端口腔体的阻抗矩阵的统计量。但是，寻找一种实用的方法来测量构成模型的必要参数仍然是一个挑战，特别是在端口具有局部功率损耗的情况下。在本文中，我们提出了测量端口辐射阻抗和腔体损耗参数的实用方法。对于复杂腔中有损耗端口的情况，采用广义天线模型，并利用天线的辐射效率修改RCM的阻抗描述。

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