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首页> 外文会议>Latin-American Test Symposium >Scan based two-pattern tests: should they target opens instead of TDFs?
【24h】

Scan based two-pattern tests: should they target opens instead of TDFs?

机译：扫描基于的双模式测试：它们是否应瞄准而不是TDFS？

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We make the case that TDF timing tests, even when aggressively applied at-speed, uniquely detect mostly open defects within standard cells. The majority of these defects can also be detected at somewhat slower test speeds without the risk of unnecessary yield loss from test noise. Meanwhile, many other opens that can cause operational failures remain undetected by current LOC, and even LOS, TDF tests. These can significantly degrade product quality. We therefore argue that it may be better to explicitly target all open faults in the circuit, with the tests being applied at the highest possible speed consistent with limiting yield loss and supporting high test compression efficiency. TDFs will implicitly be covered by such an approach, which can potentially reduce test costs and improve test quality.
机译：我们使TDF定时测试的情况，即使在积极施加的速度下，唯一地检测标准电池内的开放缺陷。 这些缺陷中的大部分也可以在某种程度上检测到较慢的测试速度，而没有从测试噪声损失不必要的产量损失的风险。 同时，许多其他打开可能导致操作失败的仍然受到当前LOC，甚至LOS，TDF测试的未检测到的。 这些可以显着降低产品质量。 因此，我们认为，在电路中明确地定位所有打开故障可能更好，并且测试以最高的速度应用，这与限制屈服损耗一致，并支持高测试压缩效率。 通过这种方法暗示TDFS将涵盖，这可能会降低测试成本并提高测试质量。

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