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首页> 外文会议>International Conference on Microelectronics >Towards an automated and reusable in-field self-test solution for MPSoCs
【24h】

Towards an automated and reusable in-field self-test solution for MPSoCs

机译：寻求针对MPSoC的自动化且可重复使用的现场自检解决方案

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Logic Built-In-Self-Test has been used for long time in order to reduce the cost of manufacturing tests. Recently, LBIST has been increasingly used for lifetime dependability tests, especially in safety-critical applications such as in automotive. In this paper, the use of the IEEE 1687 standard for enabling an automated in-field LBIST solution with reusable test procedures is introduced. An IEEE 1687-compliant dependability manager which is capable of performing LBIST on IEEE 1500 wrapped cores is proposed. By using the IEEE 1687 networks for test delivery, LBIST-access and configuration, this solution becomes reusable and consequently reduces the design time.
机译：逻辑内置自测试已使用了很长时间，以降低制造测试的成本。最近，LBIST已越来越多地用于寿命可靠性测试，尤其是在汽车等安全性至关重要的应用中。在本文中，介绍了使用IEEE 1687标准来实现具有可重用测试过程的自动化现场LBIST解决方案的方法。提出了一种能够在IEEE 1500包装的内核上执行LBIST的符合IEEE 1687的可靠性管理器。通过使用IEEE 1687网络进行测试交付，LBIST访问和配置，该解决方案变得可重用，从而缩短了设计时间。

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