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首页> 外文会议>Asia and South Pacific Design Automation Conference >WIPE: Wearout Informed Pattern Elimination to Improve the Endurance of NVM-based Caches
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WIPE: Wearout Informed Pattern Elimination to Improve the Endurance of NVM-based Caches

机译：WIPE：淘汰磨损通知模式以提高基于NVM的缓存的持久性

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With the recent development in Non-Volatile Memory (NVM) technologies, several studies have suggested using them as an alternative to SRAMs in on-chip caches. However, limited endurance of NVMs is a major challenge when employed in the caches. This paper proposes a data manipulation technique, so-called Wearout Informed Pattern Elimination (WIPE), to improve the endurance of NVM-based caches by reducing the activity of frequent data patterns. Simulation results show that WIPE improves the endurance by up to 93% with negligible overheads.
机译：随着非易失性存储器（NVM）技术的最新发展，一些研究建议将它们用作片上高速缓存中SRAM的替代产品。但是，在缓存中使用NVM时，有限的耐用性是一个主要挑战。本文提出了一种数据处理技术，即所谓的磨损信息模式消除（WIPE），以通过减少频繁数据模式的活动来提高基于NVM的缓存的持久性。仿真结果表明，WIPE可以将耐用性提高多达93％，而开销却可以忽略不计。

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