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首页> 外文会议>Annual IEEE-IFIP International Conference on Dependable Systems and Networks-Supplemental Volume >Tomographic Measuring Sensors System for Analysis and Visualization of Technological Processes
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Tomographic Measuring Sensors System for Analysis and Visualization of Technological Processes

机译：用于技术过程分析和可视化的层析成像测量传感器系统

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The paper presents the results of research on the use of tomographic sensors to analyze industrial processes using dedicated measuring devices, image reconstruction algorithms and cyber-physical system (CPS). The work mainly focuses on ultrasound tomography and image reconstruction using determi-nistic methods and machine learning. The tests were carried out for synthetic data and laboratory measurements. The main advantage of the proposed system is the ability to analyze spatial data and their high processing speed. The presented research results indicate that ultrasonic process tomography gives the opportunity to analyze processes occurring inside the facility without disrupting production. The presented method enables the analysis and detection of obstacles, defects and various anomalies. Knowing the characteristics of the problem, the application allows you to choose the right method of image reconstruction.
机译：本文介绍了使用层析成像传感器通过专用测量设备，图像重建算法和网络物理系统（CPS）分析工业过程的研究结果。这项工作主要集中于使用确定性方法和机器学习的超声层析成像和图像重建。对合成数据和实验室测量进行了测试。所提出系统的主要优点是能够分析空间数据及其高处理速度。提出的研究结果表明，超声过程层析成像为分析设施内部发生的过程提供了机会，而不会中断生产。所提出的方法使得能够分析和检测障碍物，缺陷和各种异常。知道问题的特征后，该应用程序允许您选择正确的图像重建方法。

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