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Hybrid VXI/PXI/LXI test system using (MIPSS) IEEE-P1693 standard

机译：使用（MIPSS）IEEE-P1693标准的混合VXI / PXI / LXI测试系统

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The users of today's test systems are seeking integration solutions to marry multiple test standards (VXI/ PXI/LXI) into a common chassis (Fig. 1). This paper will describe how a hybrid implementation of the IEEE-P1693 Modular Interconnect Packaging for Scalable Systems (MIPSS) draft standard [1] can accomplish that and provide benefits of less cost, smaller footprint and be transparent to what test interface you would apply. The (MIPSS) draft standard specifies a packaging design that is a plug&play, scalable, and merges multi-standards in a VXI chassis footprint, applying PXI/M-Modules as mezzanine cards mounted to VXI Carrier Modules (Fig.2). A VXI plug-in power module is defined that can provide power to system instruments, fixture components and unit-under-test (UUT) requirements. Interconnecting the specified instrument front-panel I/O to a pluggable test interface of your choice would permit users to mechanically interchange different test interfaces quickly without implication of cabling. The modular plug&play scalable specification with direct coupled interconnect allows the integrator and user to quickly assemble (reconfigure, upgrade, or replace the module within the ATS.
机译：今天的测试系统的用户正在寻求集成解决方案，以将多个测试标准（VXI / PXI / LXI）结婚为公共机箱（图1）。本文将描述IEEE-P1693模块化互连包装的混合实施方式，用于可扩展系统（MIPSS）草案标准[1]可以实现这一目标，并提供较低成本，更小的占用空间，并且对您所申请的测试界面透明的好处。 （MIPSS）草案标准规定了一种包装设计，即即插即用，可扩展，并在VXI机箱占用空间中合并多标准，将PXI / M模块应用于安装到VXI载体模块的夹层卡（图2）。定义了VXI插件电源模块，可以为系统仪器，夹具组件和单元欠测试（UUT）要求提供电源。将指定的仪器前面板I / O互连到您选择的可插拔测试界面将允许用户快速地机械地交换不同的测试界面，而不会含义电缆。具有直接耦合互连的模块化即插即用可扩展规范允许集成器和用户快速组装（重新配置，升级或替换ATS中的模块。

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