部分再構成によるプロセッサの耐故障性に関する一考察

机译：部分重建处理器故障控制研究

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本研究では，既存の技術を組み合わせて，容易かつ堅牢な耐故障回路を制作するための技術的要素の検討を行った.特に本稿では，通常回路のリコンフィギャラブル化について検証するために，DPRの実デバイス上への実装を行なった.その結果，耐故障化を施されてない回路を想定してスタティック領域に実装された回路を，DPR領域内に移し，実装することができた.その際，DPRによるリコンフイギャラブル化において，面積オーバーへッドが無いことが確認できた.今後は，DPRを用いたタイルの実装を行い，提案手法の実現に必要なscrubbingなどの既存技術の検証と，それらを用いた提案手法の実装を行い，最終的には提案手法の耐故障性能の評価を行っていきたい.

机译：在这项研究中，我们检查了技术元素，以结合现有技术，并创建容易且坚固的故障耐受电路。特别是，在本文中，为了验证通常在真实设备上实现的电路的可重新配置。结果，电路在静态区域中实现可以在DPR区域中在DPR区域中传输和实现，假设一个没有融合的电路。当时，DPR的重新配置中没有区域超码。将来，我们使用DPR实现了瓷砖并验证现有技术，如擦洗所需的方法，以实现所提出的方法，实现使用它们的提出方法，最后，我们想评估所提出的方法的故障性能。

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来源
《次世代産業システム研究会》|2016年|45 p.|共5页
会议地点
作者
荻堂盛也; 山田親捻; 宮城桂; 市川周一;
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作者单位

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会议组织
原文格式 PDF
正文语种
中图分类电磁学、电动力学;
关键词
耐故障; FPGA; 部分再構成; 故障検出;

机译：耐故障;FPGA;部分再构成;故障検出;

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