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【24h】

A Micro-Probing System for Dimensional Metrology on Microsystem Components

机译:用于微系统组件的尺寸计量的微探测系统

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摘要

A 3d-micro-probing system based on a silicon boss-membrane with piezoresistive elements has been developed. The paper focusses on some metrological properties: the stiffness of the membrane, the sensitivity and the resolution, the measuring range, the probing forces and on the K-factor of the piezo-resistors.
机译:已经开发了基于具有压阻元件的硅凸台膜的3d微探测系统。本文着重于一些计量特性:膜的刚度,灵敏度和分辨率,测量范围,探测力以及压电电阻器的K系数。

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