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首页> 外文会议>IEEE International Conference on Power, Intelligent Computing and Systems >A verification method for power-off protection mechanism of embedded chip non-volatile memory
【24h】

A verification method for power-off protection mechanism of embedded chip non-volatile memory

机译：嵌入式芯片非易失性存储器断电保护机制的验证方法

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This paper proposes a verification method of power-off protection mechanism for non-volatile memory, which is suitable for the application scenarios where the data needs to be protected when power-off occurs when the non-volatile memory is erased or written. This method can verify the correctness of the power-off protection mechanism, i.e. whether the data operated after the power-off event can maintain atomicity. This verification method gives the specific verification method, but does not limit the specific details of the implementation.
机译：本文提出了一种用于非易失性存储器断电保护机制的验证方法，其适用于当擦除非易失性存储器时，当发生断电时需要保护数据的应用场景。 该方法可以验证断电保护机制的正确性，即，在断电事件后是否操作的数据可以保持原子性。 此验证方法给出了特定的验证方法，但不限制实现的具体细节。

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