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【24h】

transXend 検出器を用いたエネルギー分解CT に用いる応答関数への散乱X 線の影響

机译:散射X射线对响应函数的影响,用于使用Transxend检测器的能量劣化CT

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摘要

X 線コンピュータ断層撮影法(CT)では,被検体内部で発生した散乱X 線により再構成した画質が低下し,診断上の問題となる場合がある.我々が開発を行っているtransXend 検出器によるエネルギー分解CT[1]においても,被検体内部で生じる散乱X 線による影響がある.今回,被検体の前方にタングステンコリメータを設置し散乱X 線の影響について検討を行った結果について述べる.
机译:X射线计算机断层扫描(CT)在主题内生成的散射X射线重建 可以减少图像质量,并且可以是诊断问题。根据我们正在开发的Transxend探测器 能量降解的CT [1]也影响受试者内部产生的散射X射线。这次 关于在正文前面建立钨芯片的结果,检查了散射X射线的影响 状态。

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