MOS integrated circuits; annealing; ion implantation; solid phase epitaxial growth; transmission electron microscopy; ClusterBoron; ClusterCarbon; PMOS ultrashallow junction; TEM; diffusion-less anneals; flash-assisted anneals; high temperature spike anneal; ion imp;
机译:优化45nm节点USJ的退火技术
机译:毫秒级快速退火:USJ形成和器件电特性优化的应用
机译:从不同压印材料和技术获得的多个内部连接植入物假体的铸模准确性评估:一项体外研究。
机译:USJ应用的ClasterBoron庐和ClusterCarbon驴材料的植入物 - 各种退火技术的研究
机译:离子注入半导体上毫秒激光退火的研究及其在规模化finfet技术中的应用。
机译:不同夹板材料的多种种植体压印技术的种植体铸造精度比较:一项体外研究
机译:多种种植体印模技术与不同夹板材料的种植体铸造精度比较:体外研究
机译:离子注入技术适用于制造高效硅太阳能电池离子注入电子束退火电池的研究:最终报告