Analytics and Materials Characterization, BASF Catalyst Division, BASF Corporation, 25 Middlesex/Essex Tpk, Iselin, NJ, 08830;
机译:放牧电子探针X射线显微分析(GE-EPMA):基础与应用
机译:电子束非垂直入射的波长和能量色散电子探针微分析(EPMA)测量
机译:通过电子探针微分析(EPMA)测量的电子设备的高空间分辨率扩展X射线发射精细结构(EXEFS)光谱
机译:用扫描电子显微镜(SEM)和电子探针微分析(EPMA)对元素原位反应产生的粒子尺寸对MOSI2 / TIB2复合材料微观结构的影响。
机译:不同电子探针X射线显微分析方法对单个环境粒子的化学表征的优化和应用。
机译:用于低压扫描电子显微镜的定量电子探针X射线显微分析的障碍
机译:电子束非垂直入射的波长和能量色散电子探针微分析(EPMA)测量
机译:基于电子散射的薄生物标本电子探针X射线微量分析质谱测定