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Application of planar waveguides with gradient index profile to determine parameters of thin active layers used in waveguide sensors

机译:具有梯度指数分布的平面波导在确定波导传感器中使用的薄有源层参数方面的应用

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摘要

The presence of thin cover layer on planar waveguide influences its propagation characteristics. A generalized m-line spectroscopy method enables the evaluation of the parameters (the refractive index, n and the thickness, t) of the subguiding layers deposited on a planar waveguide. In this paper algorithm for determination of the parameters of the thin layer (deposited on waveguide with previously evaluated index profile by m-line method) has been presented.
机译:平面波导上薄覆盖层的存在会影响其传播特性。通用的m线光谱法能够评估沉积在平面波导上的辅助层的参数(折射率n和厚度t)。在本文中,提出了确定薄层参数的算法(用m线方法将其沉积在具有预先评估的折射率分布的波导上)。

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