Bell Laboratories, Murray Hill, New Jersey;
机译:一种使用布局信息评估和提高测试质量的方法-一种基本方法和一些示例(桥梁故障Iddq测试,加权卡住的故障覆盖率)
机译:一种使用布局信息评估和提高测试质量的方法-一种基本方法和一些示例(桥梁故障Iddq测试,加权卡住的故障覆盖率)
机译:一种使用布局信息估算和提高测试质量的方法 - 基本方法和一些例子(桥式故障IDDQ测试,加权卡在故障覆盖范围)
机译:LSI产品质量和故障范围
机译:容错传感器覆盖范围,以最小的成本实现所需的覆盖范围
机译:考虑故障排除效率和错误产生的测试覆盖软件可靠性模型
机译:LsI产品质量和故障覆盖率
机译:基于LsI / VLsI的故障覆盖测量系统功能测试