【24h】

Phase-stepping DIC technique for reflecting surface evaluation,

机译:用于反映表面评估的相位步进DIC技术,

获取原文

摘要

Abstract: The phase stepping DIC technique is proposed for the surface profiling of highly polished optical substrata. An easy implementation is described in a commercially available polarized light interference microscope for reflected light. Experimental results are presented. !9
机译:摘要:提出了相位步进DIC技术用于高度抛光的光学基材的表面轮廓分析。在可商购的用于反射光的偏振光干涉显微镜中描述了一种简单的实施方式。给出实验结果。 !9

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号