BC Enterprises Inc;
TopWave Instruments OY;
机译:使用光谱域干涉测量的双层微结构的各个层的物理厚度和组折射率测量
机译:光学透明层状结构厚度测量中的光谱干涉
机译:多层HgCdTe结构中各层组成和厚度的确定
机译:多卧式结构中各层厚度的测量和SOC
机译:用于厚度测量和监视多层结构的声学方法。
机译:RS-3000光学相干断层扫描仪测量的乳头周全视网膜厚度和乳头视网膜神经纤维层厚度的术中重现性差异
机译:B6.4 - 塑料多层化合物中各个层厚度的光学测量