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首页> 外文会议>Proceedings of the 1999 workshop on polymeric materials for microelectronics and photonics applications : Mechanics, physics, reliability, processing >Modeling of an interface crack nucleation
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Modeling of an interface crack nucleation

机译：界面裂纹成核的建模

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A mathematical model for evaluationof the time of interface crack nucleationand growth taking into account the bond kinetics in a weakened zone at an interface is developed. This zone is considered as a crack-like defect and it is suppose that distributed spring-like bonds with time dependent properties link the crack surfaces. The system of two singular integral-differential equations is derived for an analysis of time dependencies of a weakened zone size, bond stresses and stress intensity factors. Numerical calculations of the kinetics and time of the defect nucleation and growth through the weakened zone is performed at characteristic parameters of bonds and joint materials and diffeent values of the external load.
机译：建立了考虑界面处薄弱区域中的键动力学的界面裂纹成核和生长时间的数学模型。该区域被认为是裂纹状缺陷，并且假定具有随时间变化的特性的分布的弹簧状键连接了裂纹表面。推导了两个奇异积分-微分方程组，用于分析弱化区域大小，粘结应力和应力强度因子的时间依赖性。通过键合和接头材料的特征参数以及外部载荷的不同值，对通过弱化区的缺陷成核和生长的动力学和时间进行了数值计算。

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