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4H-SiCトレンチ埋込成長のトポグラフィー·シミュレーション

机译:4H-SiC沟槽埋藏生长的形貌模拟

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摘要

これまでに4H-SiCトレンチ埋込成長におけるGibbs-Thomson (GT)効果(成長表面の平rn衡蒸気圧が曲率に依存する効果)を取り込んだ定常解析を報告した[1]。今回,市販シミュレ一 タ[2, 3]にGT効果を取り入れ,トレンチ埋込成長形態の時間依存解析を行ったので報告する。
机译:到目前为止,我们已经报道了在4H-SiC沟槽掩埋生长中结合了吉布斯-汤姆森(GT)效应(生长表面上的平面蒸汽压取决于曲率的效应)的稳态分析[1]。在这里,我们报道了将GT效应并入了商业模拟器[2,3],并对沟槽掩埋的生长形态进行了时变分析。

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