【24h】

MICROFABRICATION OF TERAHERTZ VACUUM ELECTRONIC DEVICES

机译:TERAHERTZ真空电子设备的微细加工

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摘要

The final evaluation of our TWT circuit involves an elaborate and time consuming process, however, there is a simpler way to test our work during the development stages. We can omit the electron beam and send low-intensity EM radiation through the circuit. While varying the input frequency and monitoring the input and output power, we can measure the frequency response of the system. This is an efficient evaluation that we have dubbed the "cold test".
机译:对TWT电路的最终评估涉及一个复杂且耗时的过程,但是,有一种更简单的方法可以在开发阶段测试我们的工作。我们可以省略电子束,并通过电路发送低强度的EM辐射。在改变输入频率并监视输入和输出功率的同时,我们可以测量系统的频率响应。这是我们称为“冷测试”的有效评估。

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