ELEKTRONENMIKROSKOPISCHE CHARAKTERISIERUNG VON KOLLOIDALEN HALBLEITER- UND METALLTEILCHEN SOWIE DÜNNEN SCHICHTEN

机译：胶体半导体和金属颗粒及薄层的电子显微表征

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Bei der Analytischen Elektronenmikroskopie werden die Proben mit hochenergetischen Elektronen beschossen; die gebeugten Elektronen werden sowohl zur Aufzeichnung von elektronenmikroskopischen Bildern als auch zur Elektronenbeugung benutzt, während die emittierte Röntgenstrahlung zur Elementaranalyse verwendet wird. Analytische Elektronenmikroskopie gilt als eine unverzichtbare Methode für die chemische Analyse von Schichten, besonders in der Charakterisierung von sehr kleinen Bereichen und kolloidalen Nanopartikeln.

机译：在分析型电子显微镜中，样品被高能电子轰击。衍射电子既用于记录电子显微图像，又用于电子衍射，而发射的X射线用于元素分析。分析电子显微镜被认为是化学分析层的必不可少的方法，特别是在非常小的区域和胶体纳米颗粒的表征中。

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来源
《Solar Energy Research at the Hahn-Meitner-Institute : Abstract》|1995年|57-58|共2页
会议地点 Stutenhaus(DE)
作者
Michael Giersig;
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作者单位

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正文语种 ger
中图分类太阳能技术;
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