首页> 外文会议>Symposium on Epitaxial Oxide Thin Films III March 31-April 2, 1997, San Francisco, California,U.S.A >High quality epitaxial V_2O_3 thin films: a material for infrared switching devices?
【24h】

High quality epitaxial V_2O_3 thin films: a material for infrared switching devices?

机译:高质量外延V_2O_3薄膜:用于红外开关设备的材料?

获取原文
获取原文并翻译 | 示例

摘要

The compound V_2O_3 undergoes a metal-insulator-transition (MIT) at T=150K with an optical gap in the insulating phase of approx 0.6eV. Therefore epitaxial films of V_2O_3 are of interest for infrared (IR) applications. We present the results of a systematic study of the growth conditions of such films utilizing electronic transport and infrared transmission measurements in addition to studies of crystal and microstructure.
机译:化合物V_2O_3在T = 150K处经历金属-绝缘体转变(MIT),绝缘相中的光学间隙约为0.6eV。因此,V_2O_3的外延膜对于红外(IR)应用很重要。除了晶体和微观结构的研究,我们还利用电子传输和红外透射测量系统研究了这类薄膜的生长条件。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号