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A Reliable Method for the Extraction of Material Parameters of Thick and Thin Samples in THz Time-Domain Spectroscopy

机译:太赫兹时域光谱中厚和薄样品材料参数的可靠提取方法

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摘要

We present a fast and reliable method for extracting the refractive index and absorption in terahertz time-domain spectroscopy and apply it to the characterization of varius thin films.
机译:我们提出了一种快速,可靠的方法,用于提取太赫兹时域光谱中的折射率和吸收,并将其应用于各种薄膜的表征。

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