A Circuit Comparison System for Bipolar Linear LSI

机译：双极线性LSI的电路比较系统

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This paper describes a new LST layout verification system which compares two circuits. One is extracted from LSI layout, and the other is an original circuit diagram. This system is also capable of giving layout error information to designers. In particular, this system is applicable to bipolar linear LSIs containing a variety electrical elements.

机译：本文介绍了一种新的LST布局验证系统，该系统可以比较两个电路。一个是从LSI布局中提取的，另一个是原始电路图。该系统还能够向设计者提供布局错误信息。特别地，该系统适用于包含各种电气元件的双极线性LSI。

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来源
《Wireless Technology》|1996年|p.429-434|共6页
会议地点
作者
Sakata T.; Kishimoto A.;
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作者单位

Second LSI Division, NEC Corporation, Kawasaki, Japan;

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会议组织
原文格式 PDF
正文语种 eng
中图分类自动化技术、计算机技术;
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