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微控制器测试技术及应用研究

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目录

微控制器测试技术及应用研究

RESEARCH ON MICROCONTROLLERTEST TECHNOLOGY ANDAPPLICATIONS

摘 要

Abstract

目 录

第1章 绪论

1.1 课题来源及研究目的和意义

1.2 国内外在该方向上的研究现状及分析

1.3 主要研究内容

第2章 微控制器测试算法设计

2.1 AT89C51的功能体系结构

2.2 微控制器功能测试

2.3 其他部件的功能测试

2.4 本章小结

第3章 微控制器测试算法试验

3.1 自动测试设备(ATE)综述

3.2 测试算法在ATE SC上的实现

3.3 编写测试程序

3.4 本章小结

第4章 微控制器参数测试试验

4.1 直流参数测试

4.2 交流参数测试

4.3 本章小结

结 论

参考文献

附录1 AT89C51内部结构逻辑图

附录2 测试程序软、硬件图片

攻读硕士学位期间发表的学术论文

致谢

个人简历

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摘要

随着集成电路的发展,成品测试正发挥着越来越重要作用,尤其在航天领域中,需要有高可靠性的电子元器件,对其进行完整测试是保证质量最有效方法。微控制器处于航天产品的核心部位,对其进行有效测试始终是个难题。
  本课题以航天产品中广泛应用的AT89C51为例,对微控制器的测试技术进行了研究,依据AT89C51数据手册中对功能模块的描述,将测试对象分为两大部分,一部分为核心处理器电路,采用构造系统图的方法,建立了三种故障模型,并分别制定了相应测试算法;另一部分是外围电路,包括存储器、I/O口、定时器/计数器和中断控制器,采用逐一分解的方法,对每一个部件建立故障模型,设计测试算法。在理论研究基础上,本课题设定一台测试系统为实现平台,利用指令集将算法转化为汇编语言,最终以机器语言的形式落实于测试向量中,从而将上述测试方法加以执行,完成了功能测试。
  借助功能测试的基础,本课题参照数据手册要求,在做直流参数测试时,通过运行一段功能测试向量,使其处于待测试状态,通过仪表量测,得到实际数值,完成从测试条件到测试结果的获得;做交流参数测试时,将测试条件和测试结果判据都作为功能测试的条件,采用的是验证的方法,在保证结果的同时,提高了测试速度,降低了程序的复杂情况。
  本课题通过对微控制测试技术的研究,开发出了AT89C51测试程序,目前该程序已经应用到实际的测试工作中,测试状态稳定,取得了较好效果。

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