铜（Ⅱ）、铅（Ⅱ）在桑色素和槲皮素化学修饰碳糊电极上的吸附溶出伏安法研究

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该文在查阅了大量文献的基础上,首次成功地制作了以桑色素(Mor)和槲皮素(Qu)为修饰剂的化学修饰碳糊电极.并利用这两种新型电极为工作电极分别建立了测定痕量铜和铅的吸附溶出伏安法.全文共分四章:第一章研究了铜(Ⅱ)在桑色素化学修饰碳糊电极上的吸附溶出伏安行为.第二章进行了铅(Ⅱ)在桑色素化学修饰碳糊电极上的吸附溶出伏安法的研究.第三章报道了用槲皮素化学修饰碳糊电极吸附溶出伏安法测定痕量铜(Ⅱ)的研究.第四章提出了应用槲皮素化学修饰碳糊电极测定痕量铅(Ⅱ)的吸附溶出伏安法.总之,该文通过深入、系统的试验,制备了桑色素和槲皮素化学修饰碳糊电极,并采用这些电极,建立了吸附溶出伏安法测定痕量铜(Ⅱ)、铅(Ⅱ)的新方法.方法灵敏度高、选择性强、重现性好.对于新型伏安传感器的研究,具有一定的理论和实际应用价值.

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作者
费俊杰;
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作者单位

湘潭大学;

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授予单位湘潭大学;
学科分析化学
授予学位硕士
导师姓名黎拒难;
年度 2001
页码
总页数
原文格式 PDF
正文语种中文
中图分类极谱分析;
关键词
铜; 铅; 桑色素; 槲皮素; 化学修饰碳糊电极; 吸附溶出伏安法;

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