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一种三段式高精度宽量程时间数字转换电路设计

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摘要

第一章 绪论

1.1 研究背景与意义

1.2 国内外研究现状与发展趋势

1.2.1 国内外研究现状

1.2.2 发展趋势

1.3 研究内容与设计指标

1.3.1 研究内容

1.3.2 设计指标

1.4 论文组织结构

第二章 TDC量化原理与方法

2.1 时间数字转换量化原理

2.2 单一模式TDC结构

2.2.1 计数器型TDC结构

2.2.2 延迟型TDC

2.2.3 压控延迟型TDC

2.2.4 差模延迟线型TDC

2.3 两段式TDC组合原理

2.3.1 两段式TDC组合方式

2.3.2 两段式TDC无缝衔接约束

2.4 本章小结

第三章 TDC非理想特性分析

3.1 TDC非理想时钟特性

3.1.1 非理想时钟特性表征

3.1.2 各种时钟结构理想特性比较

3.2 非理想状态锁存

3.2.1 误码根源分析

3.2.2 不同译码电路的误码比较

3.2.3 不同译码电路误码率评判模型

3.3 基于非理想约束的时钟信号选择

3.4 本章小结

第四章 三段式TDC电路设计

4.1 三段式TDC系统理论基础

4.1.1 多段式TDC设计理论

4.1.2 三段式TDC设计方法

4.2 三段式TDC系统架构与电路设计

4.2.1 三段式TDC系统架构

4.2.2 三段式TDC电路设计

4.3 电路模块设计

4.3.1 Dual-DLL电路

4.3.2 双模式高段位LFSR计数器

4.3.3 中段量化后剩余时间提取电路

4.3.4 低段位Venier-TDC电路

4.3.5 初相调整电路

4.3.6 延迟单元电路设计

4.4 本章小结

第五章 三段式TDC系统仿真与版图设计

5.1 仿真环境与条件

5.2 三段式TDC关键模块仿真分析

5.2.1 Dual-DLL模块仿真分析

5.2.2 边沿预处理电路仿真分析

5.2.3 低段位电路仿真分析

5.2.4 低段位环振稳定性对比仿真分析

5.2.5 单位延迟单元仿真分析

5.2.6 译码电路仿真分析

5.3 三段式TDC系统仿真分析

5.4 三段式TDC版图设计

5.4.1 TDC电路版图设计中的注意事项

5.4.2 整体电路版图设计

5.5 本章小结

第六章 TDC测试验证

6.1 测试环境与平台

6.1.1 测试仪器与测试平台

6.1.2 PCB测试准备

6.2 芯片功能测试

6.2.1 激励信号测试

6.2.2 高精度TDC功能测试

6.2.3 测试数据读出平台

6.3 数据测试及分析

6.4 性能对比与结果分析

6.5 本章小结

第七章 总结与展望

7.1 总结

7.2 展望

参考文献

致谢

攻读硕士学位期间发表的论文

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摘要

时间数字转换(Time-to-Digital Converter,TDC)电路用于时间测量,将两个异步信号所定义的持续时间间隔转化为数字量输出。TDC电路常用于实现一定动态范围内的精密时间测量,在光子或粒子飞行时间检测、脉冲信号持续时间检测等各类系统中获得了广泛应用,有力支撑了红外传感检测、温度检测技术的发展。
  单模式TDC电路只有一种时间量化基本单位,无法兼顾高精度与宽量程的共同需求。因此,为了突破测量精度提高与量程范围扩展的相互制约关系,TDC必须依靠大小不同的量化单位TDC之间的配合,构成多段式TDC,有效提高时间检测的动态范围,提升检测精度。本文提出的三段式TDC是在经典两段式TDC基础上改进得到:高段LFSR计数式TDC保持不变,实现所需的宽量程检测;同时将延迟式TDC的控制电压改进为DLL控制提供,提高中段TDC的性能水平,并在此基础上进一步引入游标细分辨TDC,突破数字门电路最小延迟下限,实现高精度量化。与其他三段式TDC结构相比,本设计在精度上突破门延迟限制基础上,高段位实现了宽动态范围的量程扩展,实现了兼顾精度和宽量程的共同需求。除此以外,本设计基于Dual-DLL架构,产生的压控电压稳定性明显优于开环补充结构,在抑制环振频率的相位噪声或时钟抖动方面具有明显优势。
  本论文设计的高精度与宽量程三段式TDC电路,在维持原有量程不变的条件下,其时间检测分辨率突破了工艺决定的门延迟时间限制。本设计采用TSMC0.35μm标准工艺,通过Cadence EDA工具验证,完成了整个电路前仿、版图与后仿及流片验证。测试结果显示,在40MHz输入时钟条件下,15bit三段式TDC测试量程可达4μs,同时转换精度可限制在0.25ns以内,温度-40℃~100℃时功能正常,满足设计要求。

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