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摘要
第一章 引言
1．1 粒子物理学
1．1．1 标准模型
1．1．2 量子色动力学
1．2 轻强子物理
1．2．1 强子态
1．2．2 粲偶素家族和J／ψ衰变
1．2．3 η’衰变
1．3 论文选题的物理思想和论文结构
1．3．1 选题背景及意义
1．3．2 论文选题
1．3．3 论文结构
第二章 北京正负电子对撞机Ⅱ(BEPCⅡ)和北京谱仪Ⅲ(BESⅢ)
2．1 北京正负电子对撞机
2．2 北京谱仪
2．2．1 主漂移室
2．2．2飞行时间计数器
2．2．3 电磁量能器
2．2．4 超导磁体
2．2．5 μ子探测器
2．3 在线数据获取系统
2．4 BESⅢ离线软件系统
2．4．1 BESⅢ离线刻度和离线事例重建系统
2．4．2 BESⅢ的事例产生子
2．4．3 BESⅢ物理分析软件
2．5 本章小结
第三章 J／ψ→γ3(π+π-)衰变过程中X(1840)谱形的研究
3．1 J／ψ→γ3(π+π-)的事例选择
3．1．1 径迹的选择标准
3．1．2 事例选择
3．2 本底分析
3．2．1 相空间MC样本和探测效率
3．2．2 J／ψ的单举衰变MC样本
3．2．3 J／ψ→π0γ3(π+π-)的分析
3．2．4 末态粒子中含有K0SK0S的本底
3．2．5 末态粒子中含有非π±的本底
3．3 3(π+π-)不变质量谱的拟合
3．3．1 拟合函数的构造
3．3．2 质量谱拟合
3．4 光子角分布的初步研究
3．5 π+π-，π+π-π+π-和π+π+π-(π-π-π+)不变质量谱
3．6 多解的检查
3．7 系统误差分析
3．7．1 带电径迹的重建效率
3．7．2 光子的探测效率
3．7．3 4C运动学拟合
3．7．4 本底形状
3．7．5 Monte Carlo模型
3．7．6 Monte Carlo的统计涨落
3．7．7 质量分辨率的误差
3．7．8 J／ψ总数
3．7．9 系统误差总结
3．8 本章小结
第四章 η’→γπ+π-衰变机制的研究
4．1 事例选择
4．2 角分布的检查
4．3 本底分析
4．3．1 η’质量sideband
4．3．2 J／ψ的单举衰变MC样本
4．4 修正π+π-不变质量谱
4．4．1 探测效率
4．4．2 质量分辨和质量刻度
4．5 π+π-不变质量谱的拟合
4．5．1 模型依赖的拟合
4．5．2 模型无关的拟合
4．6 系统误差研究
4．6．1 模型依赖拟合的系统误差
4．6．2 分支比测量的系统误差
4．6．3 模型无关拟合的系统误差
4．7 输入输出检查
4．8 对模型依赖拟合的多解检查
4．9 本章小结
第五章 η’→π+π-l+l-(l=e，μ)分支比的测量
5．1 事例选择
5．2 η’→π+π-e+e-分析
5．2．1 本底分析
5．2．2 e+e-不变质量谱的拟合
5．2．3 末态粒子的其他物理量的检查
5．3 η’→π+π-μ+μ-分析
5．3．1 本底分析
5．3．2 π+π-μ+μ-不变质量谱的拟合
5．4 利用η’→π+π-衰变模式，对J／ψ→γη’分支比进行测量
5．4．1 事例选择
5．4．2 本底分析
5．4．3 γπ+π-不变质量谱的拟合
5．4．4 J／ψ→γη’分支比的测量
5．5 η’→π+π-l+l-，(l±=e±，μ±)分支比的测量
5．6 系统误差研究
5．6．1 MDC径迹重建
5．6．2 光子的重建效率
5．6．3 粒子鉴别(PID)
5．6．4 4C运动学拟合
5．6．5 本底的形状
5．6．6 形状因子的不确定性
5．6．7 η’质量窗选择条件
5．6．8 Nη’→γπ+π-的不确定性
5．6．9 系统误差总结
5．7 本章小结
第六章 总结与展望
参考文献
致谢
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