基于红外焦平面阵列测试的超低噪声直流偏置技术研究

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第一章 绪论

1.1 红外焦平面阵列的概念

1.2 红外焦平面阵列技术和发展现状

1.3 本文研究内容及安排

第二章 红外焦平面阵列测试系统的测试原理

2.1 概述

2.2 红外焦平面阵列主要性能参数

2.3 红外焦平面阵列测试系统的总体需求和总体结构

2.3.1 红外焦平面阵列测试系统的总体需求

2.3.2 红外焦平面阵列测试系统的总体结构

第三章 直流偏置源对系统性能的影响

3.1 一般电子系统中的噪声

3.1.1 电子系统中噪声的定义和分类

3.1.2 电子系统中噪声的抑制与衰减技术

3.2 探测器的噪声

3.3 直流偏置源的性能指标和关键技术分析

3.3.1 主要性能指标分析

3.3.2 可编程的高精度步进调节

3.3.3 噪声抑制技术及测量

3.3.4 EMC技术

3.3.5 主要器件的选型

第四章 直流偏置源的设计与实现

4.1 直流偏置源的设计方案和总体结构

4.2 直流偏置源的硬件设计

4.2.1 微控制器模块的选择与实现

4.2.2 电源模块的实现

4.2.3 光电隔离模块的实现

4.2.4 精准偏置电压模块的实现

4.2.5 射随输出模块的实现

4.3 直流偏置源的软件设计

4.3.1 SPI串行通信

4.3.2 CAN通信

第五章 直流偏置源测试与分析

5.1 直流偏置源的测试结果

5.2 直流偏置源的应用分析

第六章 总结

致谢

参考文献

在读期间研究成果