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基于FPGA的E1误码测试技术研究

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第一章绪论

1.1论文研究的背景

1.2误码仪的发展现状

1.3论文的工作和内容

第二章误码测试原理

2.1误码测试中的指标

2.2误码测试基本原理

2.3误码仪的基本构成

第三章误码仪的硬件设计

3.1硬件电路总体构成

3.1.1误码仪技术指标

3.1.2误码仪硬件方案

3.2单元模块电路设计

3.2.1电源供电电路

3.2.2系统时钟电路

3.2.3 E1接口电路

3.2.4 VXI总线接口

3.2.5 FPGA控制电路

3.2.6继电器控制电路

第四章误码测试仪的逻辑设计

4.1误码仪逻辑框架

4.2 HDB3编解码

4.3 E1接口成帧器

4.3.1 E1通信系统帧结构

4.3.2 E1成帧器的FPGA实现

4.3.3 E1成帧器的软件仿真

4.4 E1接口解帧器

4.4.1 E1通信系统的帧同步

4.4.2 E1解帧器的FPGA实现

4.4.3 E1解帧器的软件仿真

4.5测试数据产生

4.6误码统计测量

第五章误码仪功能测试

5.1 E1接口输出波形

5.2 E1接口成帧格式

5.3误码插入与测量

5.4测试结果分析

结束语

致谢

参考文献

作者在硕士期间参加的课题和发表的论文

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摘要

台式误码仪体积庞大、无法实现集成测试,论文研究了用于VXI总线集成测试系统的E1误码测试技术及其FPGA实现,具有重要的工程应用价值。
   论文首先论述了误码测试原理,给出基于VXI总线技术及虚拟仪器开发模式的集成测试系统误码测试方案。以国际标准和国家标准为依据,分析了各部分硬件电路原理,完成了模拟部分电路参数计算。仪器主要由电源供电、时钟产生、VXI总线接口、E1接口、FPGA控制、继电器控制等功能电路构成。
   根据仪器功能设计了FPGA内部逻辑框架,给出了伪随机序列产生、周期/随机性误码插入、本地图案同步、HDB3编解码、误码率测量等逻辑模块的设计原理。详细介绍E1通信协议中的单帧同步、复帧同步、CRC校验技术以及随机误码产生技术,并采用逐位检测方式设计了成帧器、解帧器和CRC校验逻辑。
   设计的误码测试仪,实现了所需的功能,并通过了国家相关部门的认证。现场实际使用情况表明该仪器具有较好的易用性和稳定性。

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