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声明
第一章绪论
1.1天线近场测量系统的发展概况及课题研究的意义
1.2本文的主要研究内容
第二章平面近场测量的基本理论
2.1天线产生的电磁场的平面波展开
2.2天线远场方向图的表示式
2.3由近场测量数据确定天线的远场方向图
2.4平面近场扫描取样间隔的选取原则
2.5扫描面范围的选取原则
2.6待测天线口径面与扫描面之间距离的选取原则
第三章网络分析仪及其精度分析
3.1网络分析仪概述
3.2网络分析仪的基本原理
3.3 Agilent PNA系列矢量网络分析仪的精度分析
3.4提高网络分析仪的测量精度
3.5网络分析仪的校准
第四章网络分析仪的自动测量
4.1 COM简介
4.2 GPIB系统与SCPI命令
4.3通过GPIB接口控制网络分析仪
第五章天线近场测量系统的组成及实测结果
5.1 HP8530A近场测量系统
5.2 PAN(以Agilent E8362B为例)近场测量系统
5.3实测结果
5.4平面近场天线测量系统的误差分析
结束语
致谢
参考文献
作者在读期间的研究成果
西安电子科技大学;