基于太赫兹时域光谱技术检测电介质材料特性的研究

声明

摘要

1 绪论

1．1 THz电磁波

1．1．1 THz波简介

1．1．2 THz波性质

1．2 THz时域光谱技术

1．2．1 THz时域光谱技术简介

1．2．2 THz波的产生和探测

1．2．3 THz时域光谱系统的性质

1．2．4 THz-TDS系统的应用

1．2．5 THz-TDS系统在检测物质方面存在的问题

1．3 THz时域光谱技术的研究现状

1．4 本文的选题依据和研究意义

1．4．1 利用THz时域光谱技术检测电介质材料性质的必要性

1．4．2 利用THz时域光谱技术检测电介质材料性质的可行性分析

1．5 研究XLPE电缆材料老化的重要性

1．6 本论文的主要工作

2 THz时域光谱技术探测样品的原理

2．1 THz时域光谱系统的光路设计

2．2 THz时域光谱系统的各部分组成装置

2．2．1 飞秒激光器

2．2．2 延迟装置与信号发射元件

2．2．3 探测装置与信号放大系统

2．2．4 数据采集装置及处理系统

2．3 THz时域光谱系统的搭建及优化

2．3．1 THz-TDS系统的搭建

2．3．2 THz-TDS系统的优化

2．4 利用THz时域光谱系统提取光学常数的原理

2．5 实验样品的制备

2．6．1 实验擞据的采集

2．6．2 实验数据的处理

2．7 本章小结

3．1 THz时域光谱系统的性能的表征

3．2 GaAs光电导天线对产生THz波的影响

3．2．1 偏置电压的影响

3．2．2 电极间隙的影响

3．3 激光脉冲参数对产生THz波的影响

3．3．1 激光照射位置的影响

3．3．2 探测光功率的影响

3．3．3 泵浦光功率的影响

3．3．4 入射激光波长的影响

3．4 入射激光波长对探测晶体的影响

3．5 本章小结

4．1 XLPE电缆的老化

4．1．1 XLPE电缆老化原因分析

4．1．2 现有的老化检测技术

4．2 XLPE电缆的光谱分析与讨论

4．3 本章小结

5 结论与展望

5．2 未来工作展望

致谢

参考文献

附录