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软件内建自测试中的测试点与测试用例

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摘 要

第一章 引言

第二章软件内建自测试思想

第三章BIST系统的测试点

第四章测试点的设置过程及实现

第五章测试用例的设计和生成

第六章课题的总结与展望

参考文献

作者攻读学位期间公开发表的论文

致谢

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摘要

本文对软件内建自测试中的测试点与测试用例进行了研究。文章重点探讨了C语言程序的测试点的设置策略,即在程序的适当位置插入测试点。在测试点的设计上是基于不同的故障模型设计了不同的测试点,对不同的故障模型进行了分析,并在此基础上设计了多种类型的测试点。同时在BIST中很重要的一部分就是测试用例的生成和实现。在研究过程中,为了使生成的测试用例达到较高的故障覆盖率,采用了基于基本路径测试的白盒分析方法,实现了一种全新的二叉化程序块流程结构的方法,最后根据二叉化后的程序结构来生成测试用例。我们研究并实现了测试用例生成所采用的策略和方法,并实现了对测试用例的管理和存储。

著录项

  • 作者

    肖全亮;

  • 作者单位

    上海大学;

  • 授予单位 上海大学;
  • 学科 计算机系统结构
  • 授予学位 硕士
  • 导师姓名 徐拾义;
  • 年度 2006
  • 页码
  • 总页数
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 中文
  • 中图分类 TP311.52;
  • 关键词

    软件开发; 软件测试; 内建自测试;

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