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目录
第一章 引言
§1.1 BIST技术的研究背景及意义
§1.2 国内外研究现状
§1.3 多目标进化算法的知识
§1.4 本文所研究的内容
第二章 数字电路BIST技术和多目标进化算法的基本理论
§2.1 内建自测试的结构
§2.2 内建自测试的测试生成
§2.3多目标进化算法
§2.4 本章小结
第三章 BIST加权测试生成优化方法的原理和相关技术
§3.1 加权优化的基本原理
§3.2 权值的确定
§3.3加权测试生成序列的故障覆盖率计算
§3.4 本章小结
第四章 基于多目标遗传算法和加权CA的BIST测试生成技术研究
§4.1 加权CA的测试生成
§4.2 多目标遗传算法应用
§4.3 基于多目标遗传算法和加权CA的BIST测试生成方法实现
§4.4 本章小结
第五章 测试验证和结果分析
§5.1 仿真验证及结果分析
§5.2 本章小结
第六章 结论
§6.1 本文研究的成果
§6.2 后续工作
参考文献
作者在攻读硕士期间主要研究成果
附录A 基于多目标遗传算法的测试生成部分代码
附录B功能仿真所需Verilog代码
