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多通道滤光片制备中的光吸收器及Lift-Off光刻工艺研究

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摘要

1 绪论

1.1 课题应用背景

1.2 光刻技术简介

1.3 课题研究现状

1.4 本文的研究内容与创新点

2 厚胶光刻工艺原理

2.1 曝光工艺

2.2 烘烤工艺

2.3 显影工艺

2.4 光刻系统

3 光吸收镀膜的设计与制备

3.1 引言

3.2 光吸收器膜系设计

3.2.1 初始膜系设计

3.2.2 模拟退火算法优化

3.2.3 膜系角度特性

3.2.4 膜系电场强度分布和吸收特性

3.2.5 膜系敏感度

3.2.6 Ge/SiO2和Ir/SiO2光吸收膜系

3.3 实验结果与讨论

3.4 本章小结

4 厚胶光刻工艺的优化

4.1 匀胶工艺的优化

4.1.1 边胶去除

4.1.2 膜厚控制

4.1.3 双层甩胶工艺

4.2 烘烤工艺的优化

4.2.1 前烘温度设计

4.2.2 烘烤热应力的消除

4.3 曝光工艺优化

4.3.1 曝光剂量对台阶形貌的影响

4.3.2 光刻胶对比度曲线的测定

4.3.3 光刻胶透射串曲线的测定

4.4 显影工艺的优化

4.4.1 厚胶显影速率的测定

4.4.2 台阶形貌的变化

4.5 组合优化实验

4.6 本章小结

5 总结与展望

参考文献

作者简介

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摘要

在现代光学信息技术中,多通道滤光片在遥感探测、彩色显示、图像采集等方面有着广泛的应用。在这些应用中常常需要小型化、集成化的多通道滤光片,而基于金属掩膜法或拼接法的传统工艺难以制作这类滤光片。因此如何制作高精度的多通道滤光片成为一个亟待解决的问题。本文围绕着多通道滤光片中的关键技术展开,主要研究内容包括:
  金属-介质光吸收膜的设计与制备。光吸收镀膜在杂散光抑制、红外光热探测、太阳能光热转换等方向有着广泛的应用。本文基于金属-介质结构设计了可见光波段的光吸收膜,采用单纯形算法和模拟退火算法合成并优化膜系结构。此外还基于蒙特卡诺法进一步分析了膜系中各层镀制误差对膜系性能的影响。实际制备得到的Cr/SiO2结构光吸收膜平均反射率为2.14%,可以满足实际使用需求。
  厚胶光刻技术的工艺实验研究。复杂膜系和红外膜系的膜层厚度常常达到几十微米以上,如果采用光刻工艺制作,则要求相应的光刻胶厚度在100μm以上。而现有的用于制作多通道滤光片的Lift-Off光刻技术制作的光刻胶图案厚度在10μm以下,不能满足上述要求。本文采用双层涂胶法制备了厚度200μm左右的超厚光刻图案,可以满足复杂膜系或红外膜系多通道滤光片的制作需求。
  光刻技术的参数优化实验。本文采用NR21-20000P和NR9-8000光刻胶作为研究对象,详细研究了各工艺参数对光刻胶图形侧壁形貌质量的影响,测定了光刻胶的显影速率、透过率等参数随工艺条件的变化情况,最后通过正交实验确定了组合优化实验参数。通过Lift-Off工艺制得的滤光片过渡区小于6μm。

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