声明
致谢
摘要
插图清单
符号、缩写清单
第1章 引言
1．1 研究背景与选题
1．2 研究内容
1．3 章节概述
第2章 T／R组件的构成与主要MMIC芯片性能参数
2．1 T／R组件的构成
2．1．1 发射通道
2．1．2 接收通道
2．1．3 幅相控制
2．2 常见MMIC芯片及其性能参数
2．2．1 放大器
2．2．2 多功能芯片
2．3 各性能参数的物理意义
2．3．1 散射参数
2．3．2 功率参数
2．3．3 噪声参数
第3章 微波测试理论与自动测试系统硬件构成
3．1 供电与时域波形测试系统
3．1．1 直流稳压电源
3．1．2 示波器
3．2 散射参数测试系统
3．2．1 标量网络分析仪
3．2．2 矢量网络分析仪
3．2．3 非线性矢量网络分析仪
3．3 功率参数测试系统
3．3．1 信号源
3．3．2 功率计
3．3．3 频谱仪
3．4 噪声测试系统
3．4．1 冷热源法
3．4．2 冷源法
3．5 控制系统与测试平台
3．5．1 开关矩阵
3．5．2 测试平台
3．6 系统误差校准与不确定度分析
3．6．1 散射参数校准
3．6．2 功率参数校准
3．6．3 噪声参数校准
3．6．4 测试不确定度分析
3．7 自主开发自动测试系统的必要性
第4章 自动测试系统的软件实现
4．1 自动测试系统软件的基本概念
4．1．1 虚拟仪器与虚拟仪器软件结构
4．1．2 程控仪器标准命令集
4．1．3 常见接口总线
4．2 自动测试系统控制软件设计
4．2．1 前端基于C#语言的测试系统
4．2．2 中端基于MySQL的数据库管理系统
4．2．3 终端基于Django编写的网页式可视化数据查询系统
第5章 测试实例与结果分析
5．1 自动测试软件通用界面介绍
5．2 功率放大器芯片自动测试系统
5．2．1 功率放大器芯片测试项与测试条件
5．2．2 功率放大器芯片自动测试系统构成
5．2．3 功率放大器芯片测试步骤与结果
5．3 低噪声放大器芯片自动测试系统
5．3．1 低噪声放大器芯片测试项与测试条件
5．3．2 低噪声放大器芯片自动测试系统构成
5．3．3 低噪声放大器芯片测试步骤与结果
5．4 多功能芯片自动测试系统
5．4．1 多功能芯片测试项与测试条件
5．4．2 多功能芯片自动测试系统构成
5．4．3 多功能芯片测试步骤与结果
5．5 自动测试系统性能分析
5．5．1 范围优势
5．5．2 速度优势
5．5．3 精度优势
第6章 结论与展望
6．1 研究结论
6．2 未来展望
参考文献
作者简介
