密码芯片安全扫描结构与安全扫描方法

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随着云计算和物联网等技术的兴起，互联网的广度和深度的不断扩大，网络信息安全成为愈加重要的技术和社会问题。信息安全的基础是密码芯片，但如果密码芯片的自身密钥安全不能得到保障，信息安全便是空中楼阁。
　　作为目前应用最为广泛的可测性设计结构，扫描测试结构被广泛的应用在包括密码芯片的各类数字芯片中。它以较低的测试代价为待测电路提供了足够的测试覆盖率，极大的保障了电子系统的可靠性。但是近年来，相关研究表明，扫描测试结构在给密码芯片增加可测性的同时也可能被不当使用为旁路攻击路径，使密码芯片的密钥信息泄露。
　　为解决这个问题，本文提出了一种前馈异或安全扫描结构。该结构首先将异或安全扫描寄存器引入扫描结构中，对测试图形进行输入/输出线性变换，实现对测试图形的硬件加密;然后本文分析了该结构的安全性并给出了它的测试图形生成算法。
　　实验结果表明，文中提出的安全扫描结构能抗击基于扫描结构的旁路攻击和复位攻击，并保留了传统扫描结构的高测试覆盖率，解决了密码芯片的安全性和可测性的冲突。

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作者
欧阳冬生;
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作者单位

浙江大学;

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授予单位浙江大学;
学科电路与系统
授予学位硕士
导师姓名张培勇;
年度 2013
页码
总页数
原文格式 PDF
正文语种中文
中图分类测试和检验;
关键词
密码芯片; 扫描测试结构; 旁路攻击; 硬件加密;

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