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激光超声技术及其在高压声速测量中的应用

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摘要

第一章 绪论

1.1 本文研究的目的和意义

1.2 激光超声的特点

1.3 激光超声研究的发展过程

1.4 激光超声在高压物理研究中的应用

1.5 本文主要研究内容

参考文献

第二章 激光超声的产生

2.1 激光超声产生的机制

2.2 激光超声的位移波形

2.2.1 震源(epicentre)背中心处的超声位移波形

2.2.2 偏离震源(off epicentre)背中心处的超声位移波形

2.3 激光超声的发射方向

2.4 激光参数对激光超声的影响

参考文献

第三章 激光超声的检测

3.1 超声检测方法概述

3.1.1 常用的非接触超声检测方法

3.1.2 光学超声检测技术评述

3.2 高频超声检测技术的要求

3.3 高频超声全光纤位移干涉测试技术

3.3.1 全光纤位移干涉原理

3.3.2 全光纤位移干涉仪性能参数

3.3.3 全光纤位移干涉仪的数据处理

3.4 高频超声全光纤速度干涉测试技术

3.4.1 速度干涉仪原理

3.4.2 全光纤速度干涉仪的性能参数

3.4.3 全光纤速度干涉仪数据处理

3.5 全光纤位移干涉仪和速度干涉仪实际结构

3.5.1 1550nm波长全光纤迈克尔逊位移干涉仪

3.5.2 532nm/1550nm波长全光纤斐索位移干涉仪

3.5.3 1550nm波长全光纤马赫-泽德尔位移干涉仪

3.5.4 1550nm波长全光纤位移/速度混合干涉仪

参考文献

第四章 基于激光超声技术的高压声速测量方法

4.1 声速

4.1.1 声速的定义

4.1.2 声波的频散和衰减

4.1.3 高压声速研究的意义

4.2 DAC下高压声速的测量方法

4.2.1 DAC静高压加载技术

4.2.2 DAC加载下材料高压声速的测量方法

4.3 样品异侧激光超声进行DAC下材料高压声速测量

4.3.1 探测点处在激发点的背面正中心(Epicentre)

4.3.2 改变探测点和激发点的相对位置

参考文献

第五章 实验系统

5.1 高压声速测量对实验系统的要求

5.2 实验系统的组成

5.2.1 激光超声激发光路

5.2.2 激光超声信号探测光路

5.2.3 显微观察光路

5.2.4 显微照明光路

5.2.5 时间基准信号探测光路

5.2.6 样品夹持装置

5.3 实验光路调节要点

参考文献

第六章 实验及实验结果

6.1 不同样品夹持方式对超声信号激发效率的影响

6.2 不同功率密度对超声信号激发效率的影响

6.2.1 不同入射能量对超声激发效率的影响

6.2.2 聚焦光斑大小对超声激发效率的影响

6.3 常压下不同厚度样品声速测量结果

6.4 高压下样品声速测量结果

6.4.1 铜样品1.5GPa压力厚度除以走时方法纵波声速测量结果

6.4.2 铜样品2.6GPa压力改变激发点/探测点位置方法纵波声速测量结果

参考文献

第七章 全文总结及展望

7.1 本文研究的主要进展

7.2 下一步工作设想

致谢

附录

A.2 博士学习期间发表的主要文章及获得的专利、奖项

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摘要

激光超声技术尤其是高频激光超声技术是目前无损检测技术中的研究热点,其在高压物理研究中的应用也正方兴未艾。本文简述了激光超声产生的物理机制、激光超声的特点以及激光超声技术在高压物理研究中的应用现状。
  本文在系统讨论位移干涉仪和速度干涉仪探测超声信号的理论基础上,发展了一种全光纤位移/速度混合干涉仪。该干涉仪具有高带宽、高信号分辨力的特点,可以满足GHz高频激光超声信号探测的需要。在干涉仪探头设计中,采用“猫眼”系统和大数值孔径显微物镜并结合单模光纤的空间滤波作用,使得干涉仪信号光强的收集能力大为提高,同时样品表面的散斑效应也得到有效抑制,从而大大提高了干涉仪的信噪比,为激光超声用于DAC加载下样品的声速测量提供了基础条件。
  本文提出了一种可测量DAC加载下样品原位厚度的光学方法。该方法利用单色激光的聚焦光斑为指针,结合电动位移平台的精密测距功能,可以实现7μm的样品厚度测量精度。在此基础上,本文提出并实现了适于DAC加载下各向异性材料声速测量的激光超声方法。
  本文提出了激光超声激发点和探测点处在样品异侧,可同时进行DAC加载下材料高压声速和原位厚度测量的方法。这种方法具有波系简单、超声信号强,易于探测和分析的优点。
  本文自行研制了一套适于DAC加载下样品高压声速测量的激光超声检测系统,对不同厚度的铜箔常压纵波声速进行了测量,结果表明该系统可用于薄至20μm左右样品纵波声速的测量,且具有一定的精度。同时,采用上述两种方法分别对1.5GPa和2.6GPa压力下的铜样品纵波声速和原位厚度进行了测量,结果显示,本文建立的激光超声检测系统以及两种高压声速测量方法,可以用于DAC加载下材料的高压声速测量。

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