石英晶体双折射率色散关系的高精度测量

代理获取

页面导航

目录
摘要
著录项
相似文献
相关主题

摘要

随着偏光技术与信息技术的发展,利用双折射现象,加工而成的偏光器件,已在很多领域有了广泛的应用。折射率是晶体的重要光学参数之一,其测量对器件设计有至关重要的作用。测量双折射率的方法有很多,大多数是针对单一波长进行,先测出主折射率,然后由其推算出双折射率值,精度一般在10-4。比较精确的测量方法当数干涉测量法,如浸液干涉法和自补干涉法,它们的共同之处是精度比传统方法提高一至两个数量级,但是上述干涉法用于可见光之外的测量是不适宜的,并且测试所需样品精度要求非常高,一般晶体加工工艺难以保证,从而使得测量精度与理论精度相差较大。
　　本文详细介绍了两种高精度测量石英晶体双折射率色散特性的方法。偏光干涉法和椭偏测量法。这两种方法都屏蔽了光源不稳定带来的影响,具有测量精度高,测量波段宽,光路简单,数据采集自动化等特点。论文共分五章:
　　第一章绪论部分,对双折射率测量方法的研究现状做了简单说明,并对本论文的主要工作进行了概述。
　　第二章双折射现象,简单介绍了双折射现象以及双折射现象的应用。并对根据晶体的双折射现象,加工而成的偏光器件做了分类及概括性说明。
　　第三章偏光干涉法,介绍了利用偏光干涉法测量石英晶体双折射率的原理、实验、测量结果及误差分析等。
　　第四章和第五章是本文的核心部分,这两章提出了两种利用椭偏仪测量石英晶体双折射率的方法,也是本文的创新点。
　　第四章椭偏仪透射模式测量法,本章在椭偏光谱仪的水平透射测量模式下,通过对确定厚度的石英波片的相位延迟量的精确测量,计算出了石英晶体的双折射率值；并进行了误差分析。结果表明:这种方法光路简单,操作方便,屏蔽了光源的不稳定性；双折射率测量精度达到了10-6,同时还实现了对石英晶体的最大双折射率色散特性的连续光谱测量。此方法对其它双折射晶体材料的双折射率色散特性的研究也同样适用。本章详细介绍了利用椭偏仪透射模式测量石英晶体双折射率的原理、实验、结果、误差分析。并得出了双折射率随温度变化的实验数据及实验曲线。
　　第五章椭偏仪反射模式测量法,利用菲涅尔公式推导出了利用椭偏仪反射模式下测量晶体双折射率色散关系的原理,并对实验的校准方法作了说明。
　　论文的主要创新是:
　　一、对椭偏法测量石英晶体相位延迟量的实验进行了改进,提高了利用椭偏仪测量晶体相位延迟量的精度。
　　二、在椭偏法测量石英晶体相位延迟量的基础上,选用厘米量级石英样品,测得了石英晶体最大双折射率的色散关系。这种方法对晶体最大双折射率的测量精度高达10-6。较偏光干涉法给出的最大双折射率的精度高一个数量级。
　　三、推导出了利用椭偏仪反射模式下测量晶体双折射率色散关系的公式,原理；介绍了这种模式下的校准方法。

著录项

作者
吕廷芬;
展开▼
作者单位

曲阜师范大学;

展开▼
授予单位曲阜师范大学;
学科光学
授予学位硕士
导师姓名李国华;
年度 2010
页码
总页数
原文格式 PDF
正文语种中文
中图分类 TM229.1;
关键词
石英晶体; 双折射率; 色散关系; 测量精度; 双折射现象; 椭偏仪测量; 光干涉法; 相位延迟量; 偏光器件; 模式测量; 误差分析; 实验; 色散特性; 反射模式; 测量法; 校准方法; 透射模式; 测量方法; 下测量; 椭偏法;

相似文献

中文文献
外文文献
专利

1. 基于椭偏光谱仪的石英晶体1310nm处双折射率的精密测量 [J] . 韩培高 ,郝殿中 ,宋连科 . 光谱学与光谱分析 . 2012,第004期
2. 云母双折射率色散关系不一致性对波片设计的影响rn——波片光相位延迟色散的补偿方法 [J] . 宋连科 ,代作晓 ,林长春 . 曲阜师范大学学报（自然科学版） . 2001,第002期
3. 高频高精度石英晶体元件电参数测量技术研究 [J] . 刘解华 ,张其善 ,杨军 . 仪器仪表学报 . 2006,第5期
4. 等离子体天线色散关系的一种高精度快速算法 [J] . 黄冶 . 核聚变与等离子体物理 . 2015,第002期
5. 基于迈克尔逊干涉液晶双折射率的测量方法设计 [J] . 李儒颂 ,马红梅 ,叶文江 . 激光技术 . 2016,第004期
6. 无限大石英晶体板高频振动的色散关系和振动模态分析 [C] . 王骥 ,阳丽君 ,杜建科 . 2009年全国压电和声波理论及器件技术研讨会暨2009年全国频率控制技术年会 . 2009
7. 基于色散关系分析的高精度气动声学计算方法研究 [A] . 陈志夫 . 2013

石英晶体双折射率色散关系的高精度测量

目录

摘要

著录项

相似文献

相关主题

期刊订阅