继电器类单机加速贮存试验及可靠性评价研究

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目录

第1章 绪 论

1.1 课题的来源及研究的目的和意义

1.2 继电器类单机长贮可靠性研究现状

1.3 加速贮存试验国内外研究现状

1.4 课题国内外文研究现状的分析

1.5 本文主要研究内容

第2章 继电器类单机加速贮存敏感参数分析

2.1 引言

2.2 继电器贮存失效机理分析

2.3 继电器有限元仿真分析

2.4 继电器类单机Simulink仿真分析

2.5 继电器类单机敏感参数分析

2.6 本章小结

第3章 继电器类单机加速贮存敏感参数测量系统设计

3.1 引言

3.2 系统总体方案设计

3.3 系统硬件设计

3.4 系统下位机软件设计

3.5 系统上位机界面设计

3.6 本章小结

第4章 继电器类单机加速贮存试验方案设计

4.1 引言

4.2 总体试验方案设计

4.3 加速贮存试验方法

4.4 本章小结

第5章 继电器类单机可靠性评估方法

5.1 引言

5.2 继电器类单机退化参数贮存试验结果分析

5.3 基于Wiener过程的继电器类单机可靠性建模

5.4 基于贝叶斯方法的Wiener过程模型参数估计

5.5 基于退化数据的单机可靠性评估

5.6 本章小结

结论

参考文献

攻读硕士学位期间发表的论文及其它成果

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致谢