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第一章 绪论
1.1 课题研究的背景和意义
1.2 课题研究的现状
1.3 本论文的主要工作
第二章 ICP发射光谱仪的原理及干扰分析
2.1 ICP发射光谱仪工作原理
2.2 ICP发射光谱仪中存在的干扰来源
2.2.1 非光谱干扰的来源
2.2.2 光谱干扰的来源
2.2.3 光谱干扰校正的必要性
2.3 常用谱线分析算法归纳
2.3.1 传统的谱线分析方法
2.3.2 传统方法的改进方法
2.4 小结
第三章 Kalman滤波算法用于谱线校正
3.1 算法原理
3.2 算法的稳定性和误差分析
3.3 试验及结果分析
3.3.1 消噪声特性的试验
3.3.2 扣背景能力的试验
3.3.3 校正谱线重叠能力的试验
3.3.4 校正谱线漂移能力的试验
3.4 小结
第四章 快速谱线分析算法用于谱线校正
4.1 算法原理
4.2 试验及结果分析
4.2.1 两峰间距对计算精度的影响
4.2.2 干扰峰与待测峰强度比对计算精度的影响
4.2.3 干扰峰与待测峰半高宽度比对计算精度的影响
4.2.4 扣背景能力
4.3 小结
第五章 基于谱数据增强的高斯拟合算法用于谱线校正
5.1 算法原理
5.1.1 谱数据增强算法的原理
5.1.2 高斯拟合算法的原理
5.2 试验及结果分析
5.2.1 谱数据增强算法用于增强数据分辨率的试验
5.2.2 高斯拟合算法用于单峰拟合的试验
5.2.3 高斯拟合算法用于二峰分离的试验
5.2.4 高斯拟合算法用于三峰分离的试验
5.3 小结
第六章 三种算法的性能分析
6.1 Kalman滤波算法
6.2 快速谱线分析算法
6.3 基于谱数据增强的高斯拟合算法
第七章 总结与展望
7.1 工作总结
7.2 展望
致谢
参考文献
附 录
