利用扫描偏振调制显微镜研究少层二维材料的光学各向异性

第1章绪 论

1.1 课题的来源及研究背景和意义

1.2 光学各向异性的研究现状

1.2.1 拉曼散射的各向异性

1.2.2 吸收的各向异性

1.2.3 透射/反射的各向异性

1.2.4 荧光激发的各向异性

1.2.5 二次谐波与三次谐波的各向异性

1.3 二硫化钼荧光的研究现状

1.3.1 二硫化钼荧光增强的研究现状

1.3.2 二硫化钼的谷极化与荧光的关系

1.4 主要研究内容

第2章扫描偏振调制显微镜的搭建及信号分析

2.1引言

2.2 实验原理

2.2.1 扫描偏振调制显微技术

2.2.2 光弹调制器

2.2.3 SPMM的工作原理

2.3 差分透射/反射率与厚度的依赖关系

2.4 本章小结

第3章少层ReS2/ReSe2的差分透射率成像

3.1引言

3.2 样品的制备

3.3少层ReS2/ReSe2的差分透射率成像

3.3.1 少层ReS2/ReSe2的光学表征

3.3.2 单层ReS2的差分透射率成像

3.3.3 少层 ReSe2的差分透射率成像

3.4 本章小结

第4章单层MoS2的光学特性

4.1引言

4.2 单层MoS2的光学各向异性

4.2.1 单层MoS2的表征

4.2.2 单层MoS2的差分透射率成像

4.3 利用IMM对单层MoS2进行荧光成像

4.3.1 单层MoS2的荧光成像

4.3.2 展望ReS2荧光成像

4.4本章小结

结 论

参考文献

声明

致 谢