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第一章 绪论
1.1 课题研究背景
1.1.1 集成电路技术发展状况
1.1.2 集成电路产业发展状况
1.1.3 集成电路面临的故障测试难题
1.2 集成电路的故障模型和测试类型
1.2.1 故障模型
1.2.2 测试类型
1.3 数字集成电路故障测试的研究进展
1.3.1 测试模式产生的演化过程
1.3.2 测试模式压缩的提出
1.4 测试数据压缩的研究状况
1.4.1 基于编码的测试数据压缩方案
1.4.2 基于线性解压结构的测试数据压缩方案
1.4.3 基于广播扫描的测试数据压缩方案
1.4.4 各种测试压缩方案的比较
1.5 研究课题来源及研究目的和意义
1.5.1 研究课题来源
1.5.2 研究目的
1.5.3 研究意义
1.6 论文的研究内容和组织结构
第二章 分块编码与优化排序的测试数据压缩技术
2.1 引言
2.2 编码方案与排序算法
2.2.1 编码方案的描述
2.2.2 编码方案提出的依据
2.2.3 测试集的优化排序算法描述
2.3 解压电路
2.4 实验结果与分析
2.5 本章小结
第三章 测试位重组算法及其相应的编码压缩方案
3.1 引言
3.2 测试位重组算法
3.2.1 算法内容
3.2.2 理论分析
3.2.3 实验结果与分析
3.2.4 小结
3.3 端标记交替-连续编码测试压缩技术
3.3.1 编码方案提出
3.3.2 解压电路
3.3.3 实验结果与分析
3.3.4 小结
3.4 基于对称编码的综合测试压缩方案
3.4.1 游程赋值策略
3.4.2 对称编码
3.4.3 解压电路
3.4.4 实验结果与分析
3.4.5 小结
3.5 本章小结
第四章 基于循环移位技术的编码压缩方案
4.1 引言
4.2 采用循环移位和优化编码的测试压缩方法
4.2.1 引入循环移位技术的依据
4.2.2 操作过程与编码思想
4.2.3 理论分析
4.2.4 实施电路
4.2.4 实验结果与分析
4.2.4 小结
4.3 动态调整向量的多扫描链测试压缩技术
4.3.1 动态调整向量压缩技术
4.3.2 测试压缩整体实现过程
4.3.3 实验结果与分析
4.3.4 小结
4.4 采用字典词条衍生模式的测试数据压缩
4.4.1 所提压缩技术
4.4.2 实施电路
4.4.3 实验结果与分析
4.4.4 小结
4.5 本章小结
第五章 采用测试向量合并的多扫描链嫁接测试
5.1 引言
5.2 设计方案
5.3 综合过程
5.4 实验结果与分析
5.5 本章小结
第六章 总结与展望
6.1 工作总结
6.2 进一步工作
参考文献
攻读博士学位期间参加研究的课题和发表的论文
