Georgia Institute of Technology.;
机译:由钝化层中的微裂纹引起的热循环灾难性倒装芯片故障仅出现在最后一个金属层的最小宽度条纹之间的间隔中
机译:倒装芯片组件焊接在FR5板上的可靠性
机译:使用2-D和3-D FEA模型的板上倒装芯片焊点可靠性分析
机译:板组件组件倒装芯片预测失效模型
机译:温度和湿度对低成本板载倒装芯片(FCOB)组件的耐久性的影响。
机译:高FGF23水平未能预测高渗血症和慢性肾功能衰竭的动物模型中的心脏肥厚
机译:板组件组件倒装芯片预测失效模型
机译:一种预测军用电子设备部件故障率并隔离潜在故障原因的数学模型